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1NM 3938E77型掃描電遷移粒徑譜儀

基本信息
產(chǎn)地:美國(guó)
訂貨量:≥1臺(tái)
價(jià)格:請(qǐng)咨詢(xún)?cè)诰客服
型號(hào):1NM 3938E77
品牌:TSI

 

產(chǎn)品詳情

 

TSI推出的SMPS TM 掃描電遷移粒徑譜儀被廣泛用于測(cè)量1微米以下的氣溶膠粒徑分布的測(cè)量 標(biāo)準(zhǔn)。選配3777型納米增強(qiáng)儀以及3086型DMA差分電遷移分析儀(1nm-DMA)組件后,SMPS粒徑譜 儀能夠測(cè)量納米的粒徑范圍擴(kuò)展至1nm。。

以下特性和優(yōu)勢(shì)是基于由 3082 型靜電分級(jí)器 、 1nm-DMA差分遷移分析儀 、 3777型納米增 強(qiáng)儀 、3772型凝聚粒子計(jì)數(shù)器 等組件共同組成的SMPS掃描電遷移粒徑譜儀。

 

特性和優(yōu)勢(shì)

 

高分辨率粒徑分布

+ 64通道/10倍粒徑

+ 1到50nm之間多于109通道

給您最大靈活度的組件設(shè)計(jì)

1nm到50nm的極寬粒徑范圍

+和3081A型長(zhǎng)差分電遷移分析儀配套使用能夠測(cè)量1nm到1um

三個(gè)數(shù)量級(jí)的粒徑

最優(yōu)化設(shè)計(jì),將散逸損失降到最低,系統(tǒng)高度整合

通過(guò)氣溶膠儀器管理(AIM)軟件進(jìn)行系統(tǒng)操作

離散顆粒物測(cè)量:多模態(tài)樣品測(cè)量效果極好

 

應(yīng)用

 

基礎(chǔ)氣溶膠研究

顆粒成核及生長(zhǎng)研究

大氣及氣候研究

燃燒及發(fā)動(dòng)機(jī)排放研究

過(guò)濾器及空氣凈化器測(cè)試

吸入或暴露艙研究

健康影響因素研究